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电路板老化高低温测试箱

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电路板老化高低温测试箱,电路板高低温测试箱,电路板老化测试箱

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产品作用:

   电路板老化高低温测试箱又名高低温老化试验箱,用于检测电路板、线路板、电路线材、电路芯片及各种材料进行高低温恒定和渐变、突发、耐热、耐寒、耐干燥等环境模拟的可靠性及适应性。本试验箱适用于各类电子电器、塑胶塑料、航空航天、半导体照明、光电通讯、汽车零部件、电线电缆、金属五金、化工涂料、不干胶、纸品印刷、建材等行业品质检测及研发新项目之用。更多产品请专业厂家。

参数性能:

容积80L      150L      225L       408L      800L     1000L

规格单位:mm)(W×H×D )

型号:KW-GD-80  内形尺寸: 400×500×400   外箱尺寸:970×1360×970

型号:KW-GD-150 内形尺寸: 500×600×500   外箱尺寸:1070×1460×1070
型号:KW-GD-225 内形尺寸: 500×750×600   外箱尺寸:1070
×1610×1170
型号:KW-GD-408 内形尺寸: 600×850×800   外箱尺寸:1170
×1710×1280
型号:KW-GD-800 内形尺寸: 1000×1000×800 外箱尺寸:1550×1850×1300

型号:KW-GD-1000 内形尺寸:1000×1000×1000 外箱尺寸:1550×1850×1500

温度范围: Z:0150  T:-20150  F:-40150  S:-70150

温度波动度:±0.5   

温度均匀度:±2.0

升温速度:1.03.0/min

降温速率:0.71.2/min
  :
  1ф3W 220V±10% 3ф5W380V±10%

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